全面支持最新最全的电化学扫描探针技术:

·  Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)

扫描电化学显微镜

·  Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)

扫描离子电导显微镜

·  Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)

扫描电化学池显微镜

·  Scanning Microcapillary Contact Method (SMCM)

扫描微毛细管接触法

·  Scanning Kelvin Probe (SKP) with µ-EIS

带微区电化学阻抗谱（µ-EIS）的扫描开尔文探针

·  Simultaneous Surface Topography Mapping

同步表面形貌成像

·  Shear Force regulated Surface Tracking

剪切力调控表面跟踪

·  Synchronized Fluorescence Imaging

同步荧光成像

·  Scanning Photoelectrochemical Microscopy (SPECM)

扫描光电化学显微镜

·  Spatially-resolved Micro-spectroscopy (ECL/DFSS/SERS)

空间分辨显微光谱（电化学发光 / 频域扫描光谱 / 表面增强拉曼光谱

参数:

·  定位系统

XYZF 4 轴闭环；分辨率 2.5 nm；Z 压电 1.5 nm；XY 行程 100×75 mm

·  双恒电位仪

电压 ±10 V；电流分辨率 0.15 fA；噪声 < 3.5 fA；采样 200 kHz

·  形貌与跟踪

剪切力控制；高度分辨率 1.5 nm；同步形貌 + 活性成像

·  扫描技术

SECM / SICM / SECCM / SKP / SPECM；多通道同步成像

·  光学

倒置荧光显微镜；4×–100× 物镜；同步荧光 / 光谱

·  软件

POTMASTER；自动化矩阵 / 模板扫描；支持 Win/Mac

·  交流阻抗

EIS（10 μHz–2 MHz）；温控池 5–65°C